CNRS/C2N : Montage et tests 
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies - Campus de Marcoussis
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Technologies Génériques > Montage et tests
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Montage

Trait horizontal

Puce Présentation

Puce Membres

Puce Publications

Puce Stages passés et en cours


Trait vertical

Puce Missions et Objectifs

Ce centre de compétences a pour principal objectif de développer et mettre à disposition les équipements, bancs expérimentaux et techniques permettant le conditionnement des dispositifs ainsi que leur caractérisation électrique et optique à différentes étapes (sur plaque, sur barette, sur puce, ou sur puce montée sur embase).
Cette « mini-plateforme » est particulièrement adaptée aux traitements des diodes lasers émettant entre 1,0µm et 1,6µm qui sont étudiées au C2N campus de Marcoussis, mais elle concerne également tous les autres composants et dispositifs du laboratoire pour le clivage, le report sur embase, et la micro-connexion électrique vers des circuits de commandes.

Puce Moyens Techniques

Amorce de clivage et clivage

ScriberHR100 Scribers SUSS-Microtec white Clivage Machine de clivage de précision

Report de puce sur embase et la réalisation de microconnexions par fil d'or

MontageFourSoudure Four sous vide de report de puce sur embase white Microsoudeuse Microsoudeuse Kulicke & Soffa 4526

Test électrique et électro-optique

BancTestIdeV Banc de test I(V) sous pointes white BancTestPdeI Banc de caractérisation de diodes laser sous pointes

Puce Activités, Résulats marquants

Les principales techniques développées pour répondre aux besoins de caractérisation et de conditionnement des dispositifs réalisés au C2N campus de Marcoussis sont les suivantes :

  • amorces de clivage
  • report de puces sur embase par soudure In sous vide,
  • réalisation de microconnexions par fil d'or entre la puce et le circuit d'accès,
  • test électrique en continu de dispositifs sur plaque,
  • test électro-optique en régime continu et en impulsionnel de dispositifs laser sur puces / sur plaque.

Ces techniques sont appliquées notamment : 

  • aux report sur embase et microconnexion de modulateurs à 40GHz,
  • aux clivage localisé de lasers et guides à cristaux photoniques,
  • à la caractérisation sur barette et sur puce de lasers à multi-puits quantiques InGaAsN/GaAs, et de lasers à boîtes quantiques In(Ga)As/GaAs, pour l'optimisation des structures.

Puces VCSEL soudées sur embase

Caractéristiques puissance-courant en régime impulsionnel d'un laser InGaAsN

Caractéristiques puissance-courant en régime impulsionnel d'un laser à multi-puits quantiques InGaAsN/GaS en fonction de la température

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Puce Membres

Contacts

 Esnault Jean-Claude  (+33) 1 69 63 60 78  
 Merghem Kamel  (+33) 1 69 63 60 02  

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Puce Publications

Publications dans des journaux
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Puce Stages passés et en cours

Stage


  • Mise au point d'un banc de test pour l'étude de la résistivité de contacts métalliques alliés sur fines couches de semiconducteurs III-V

  • E. Falsquelle-(2004-04-13 / 2004-06-18)
    Niveau : DUT
    Contact : K. Merghem
    Groupe :


    En savoir plus
    Stage de DUT - L'objet du stage est de mettre en en place d’un banc de test en salle blanche pour la caractérisation des résistances de contact de films métalliques sur semiconducteurs. Le stage majoritairement expérimental comporte trois volets : Technologie (suivi et réalisation de contacts métalliques en salle blanche sur semi-conducteurs) – Théorie : assimilation de la technique de mesure électrique dite « 4pointes » et de la méthode de mesure TLM, « transmission line method », pour la caractérisation des contacts métalliques – Expérimental : mise en place d’un banc exploitant ces techniques de mesures, et interfaçage informatique de ce banc pour l’acquisition et le calcul de la résistance spécifique de contact.
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